TIF 发表于 2024-3-11 14:59:59

STM32F103VET6每次复位后ADC采集波动变大



大家有没有遇到过这种问题,不复位一直运行时,各通道的测量电压都很稳,但是复位重启测量的数值变化就会很大,如A1测量电压114mv不变,而重启下测量变化1mv,A2通道不复位测量1174mv,复位测量变化3mv,这是什么情况,有没有遇到过的

eric2013 发表于 2024-3-12 08:47:56

断点10秒,重新上电,反复几次,测试效果是什么样的。

TIF 发表于 2024-3-12 09:01:34

eric2013 发表于 2024-3-12 08:47
断点10秒,重新上电,反复几次,测试效果是什么样的。

十秒也是波动很大,之前一分钟一测量都是波动很大,我怀疑是不是ADC每次自校准结果不一样导致的,但是每次复位重启后能看见的寄存器值都是一样的

eric2013 发表于 2024-3-13 08:39:04

TIF 发表于 2024-3-12 09:01
十秒也是波动很大,之前一分钟一测量都是波动很大,我怀疑是不是ADC每次自校准结果不一样导致的,但是每 ...

现在主要有一点是能不能排除是外接影响导致的。

然后就是程序处理和芯片本身ADC的问题。

TIF 发表于 2024-3-13 09:02:49

eric2013 发表于 2024-3-13 08:39
现在主要有一点是能不能排除是外接影响导致的。

然后就是程序处理和芯片本身ADC的问题。

应该不是外界,硬件电路不变情况下,只是多次按了复位后,就会产生不同的值,奇怪的是,如果是校准问题,我在程序里加了,每次测量前都会校准,这样测出来的值应该波动也比较大,但是却跟校准一次的结果类似,没太大波动

庄永 发表于 2024-3-13 23:05:46

TIF 发表于 2024-3-13 09:02
应该不是外界,硬件电路不变情况下,只是多次按了复位后,就会产生不同的值,奇怪的是,如果是校准问题, ...

校准前延时会等硬件系统稳定。

TIF 发表于 2024-3-21 15:09:05

庄永 发表于 2024-3-13 23:05
校准前延时会等硬件系统稳定。

试过了,还是不行,而且现在硬件复位跟软件复位效果又不一样,软件复位后波动小,硬件复位波动大

麦克斯韦Maxwell 发表于 2024-3-26 16:48:55

eric2013 发表于 2024-3-12 08:47
断点10秒,重新上电,反复几次,测试效果是什么样的。

为什么要断电10秒呢,是让ADC测量电路里的电容充分放电的原因吗?

eric2013 发表于 2024-3-27 10:08:30

麦克斯韦Maxwell 发表于 2024-3-26 16:48
为什么要断电10秒呢,是让ADC测量电路里的电容充分放电的原因吗?

防止各种外设没放电完。

Edmund1964 发表于 2024-3-30 15:39:01

我认为这是外围电路引起的
验证方法,不用掉电的方式复位,改为复位脚复位。在电源不变动的情况下复位,如果说数据正常,那就证明是外围电路上电后的延迟所引起的
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