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产品上发现每次开机采样显示不相等。
单片机使用的是STM32H750VBT6,基准芯片是TI 的REF5030,adc采用DMA循环采样,HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, (uint32_t*)&AD_Value, 16384); 4通道,每个通道4096个数据求平均
ADC 校准开启 HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1, ADC_CALIB_OFFSET,ADC_SINGLE_ENDED);
发现问题后将该板单独测试,pcb使用普通电源供给12v,ADC采样脚 接到5位半高精度电源,测试电压为2.8v
测试方法:
不停的开启关闭普通电源,观察采样数据
问题:通过多次开启关闭,发现偶尔会出现 采样数据偏差情况,一般偏差+-5以内都算正常,不正常的情况采样数据偏差130多
对于16位采样来说,130多几乎等于130/65535 *3 = 0.006v 差别还是挺大的
如果不冷启动,使用keil+jlink仿真状态下的rst按钮,没有出现这种情况。
有大神能帮忙分析下可能哪里会影响这些
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