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[MDK] Keil 打断点，密集高，重复编译，导致死机

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个体开发

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发表于 2021-1-18 20:22:41 | 显示全部楼层 |阅读模式

Keil 打断点，密集高，重复编译，导致死机

屏幕截图 2021-01-18 200104.png

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屏幕截图 2021-01-18 200734.png

解决方法是，减少断点密度。一次测试只打少数断点，将多断点一次测试分解为少数断点多次测试

屏幕截图 2021-01-18 200351.png

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发表于 2021-1-19 19:21:06 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享。

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发表于 2021-1-19 19:53:32 | 显示全部楼层

学习了

武汉天纵鹏元科技有限公司。承接嵌入式项目开发，相关技术交流。STM32，物联网，工业控制方向。QQ 408137104

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