STM32F103VET6每次复位后ADC采集波动变大

TIF · 发表于 2024-3-11 14:59:59

大家有没有遇到过这种问题，不复位一直运行时，各通道的测量电压都很稳，但是复位重启测量的数值变化就会很大，如A1测量电压114mv不变，而重启下测量变化1mv，A2通道不复位测量1174mv，复位测量变化3mv，这是什么情况，有没有遇到过的

eric2013 · 发表于 2024-3-12 08:47:56

断点10秒，重新上电，反复几次，测试效果是什么样的。

TIF · 发表于 2024-3-12 09:01:34

eric2013 发表于 2024-3-12 08:47
断点10秒，重新上电，反复几次，测试效果是什么样的。

十秒也是波动很大，之前一分钟一测量都是波动很大，我怀疑是不是ADC每次自校准结果不一样导致的，但是每次复位重启后能看见的寄存器值都是一样的

eric2013 · 发表于 2024-3-13 08:39:04

TIF 发表于 2024-3-12 09:01
十秒也是波动很大，之前一分钟一测量都是波动很大，我怀疑是不是ADC每次自校准结果不一样导致的，但是每 ...

现在主要有一点是能不能排除是外接影响导致的。

然后就是程序处理和芯片本身ADC的问题。

TIF · 发表于 2024-3-13 09:02:49

eric2013 发表于 2024-3-13 08:39
现在主要有一点是能不能排除是外接影响导致的。

然后就是程序处理和芯片本身ADC的问题。

应该不是外界，硬件电路不变情况下，只是多次按了复位后，就会产生不同的值，奇怪的是，如果是校准问题，我在程序里加了，每次测量前都会校准，这样测出来的值应该波动也比较大，但是却跟校准一次的结果类似，没太大波动

庄永 · 发表于 2024-3-13 23:05:46

TIF 发表于 2024-3-13 09:02
应该不是外界，硬件电路不变情况下，只是多次按了复位后，就会产生不同的值，奇怪的是，如果是校准问题， ...

校准前延时会等硬件系统稳定。

TIF · 发表于 2024-3-21 15:09:05

庄永发表于 2024-3-13 23:05
校准前延时会等硬件系统稳定。

试过了，还是不行，而且现在硬件复位跟软件复位效果又不一样，软件复位后波动小，硬件复位波动大

麦克斯韦Maxwell · 发表于 2024-3-26 16:48:55

eric2013 发表于 2024-3-12 08:47
断点10秒，重新上电，反复几次，测试效果是什么样的。

为什么要断电10秒呢，是让ADC测量电路里的电容充分放电的原因吗？

eric2013 · 发表于 2024-3-27 10:08:30

麦克斯韦Maxwell 发表于 2024-3-26 16:48
为什么要断电10秒呢，是让ADC测量电路里的电容充分放电的原因吗？

防止各种外设没放电完。

Edmund1964 · 发表于 2024-3-30 15:39:01

我认为这是外围电路引起的
验证方法，不用掉电的方式复位，改为复位脚复位。在电源不变动的情况下复位，如果说数据正常，那就证明是外围电路上电后的延迟所引起的

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[有问必答] STM32F103VET6每次复位后ADC采集波动变大