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[ADC] ADC采集正弦波相位

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发表于 2019-3-7 17:47:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
测量一个被测信号的相位。

假设使用ADC工作在1M采样率时候,去采集一个10K的正弦波,采集100个点。刚刚好被测信号的一个完整周期。这个正弦波幅度不变,只有相位变化。

问题来了:

除了通过FFT算出被测信号相位以外,不知道还是否有其他办法测量相位,而且相位分辨率更高。

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发表于 2019-3-7 18:03:01 | 显示全部楼层
两路同步过零点采样,需要更高的采样率,一个周期采样1000-10000个点,计算两路的差值。
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 楼主| 发表于 2019-3-7 21:16:47 | 显示全部楼层
eric2013 发表于 2019-3-7 18:03
两路同步过零点采样,需要更高的采样率,一个周期采样1000-10000个点,计算两路的差值。

这个就是有个问题,必须高过被测信号很多。现在不提高太多采样率情况下,采样大概是就是被测周期采样100点左右。
还想了个办法,对两个信号过零点采用模拟狗触发定时器去计时。但是就是不太稳定,没有通过fft算出来的相位稳定。
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发表于 2019-3-7 23:43:14 | 显示全部楼层
Oenomaus 发表于 2019-3-7 21:16
这个就是有个问题,必须高过被测信号很多。现在不提高太多采样率情况下,采样大概是就是被测周期采样100 ...

adc结果在2个100个点的数组,分别for循环找到过零点位置,求位置差值。 精度 1%。
FFT还没这个方法准。
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 楼主| 发表于 2019-3-8 08:31:26 | 显示全部楼层
armfly 发表于 2019-3-7 23:43
adc结果在2个100个点的数组,分别for循环找到过零点位置,求位置差值。 精度 1%。
FFT还没这个方法准。

嘿嘿,这个也是属于通过采集数据之后的分析。
目前的情况是有不有一种方法,ADC采样率不高情况下实现相位采集的高分辨率。现在的情况是分辨率由周期采样的点数决定,点数越多分辨率就越高。但是这样会变相的提高ADC采样率。MCU内部的采样率不会无限制的提高。
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